装置一覧

【X線光電子分光装置(XPS,ESCA)】

試料表面にX線を照射し、試料表面から放出される光電子の運動エネルギーを計測することで、試料表面を構成する元素の組成、化学結合状態を分析する装置

 

XPS5000名称:PHI 5600CIM

設置場所:地域連携推進センター棟114室

設置年度:平成5年

 

 

 

XPS5600名称:PHI 5000VersaProbe

設置場所:地域連携推進センター棟116室

設置年度:平成21年

 

 

 

 

【飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)】

固体試料にイオンビーム(一次イオン)を照射し、表面から放出されるイオン(二次イオン)を、その飛行時間差(飛行時間は重さの平方根に比例)を利用して質量分離する装置

 

TOF-SIMS名称:PHI TRIFT V nano TOF

設置場所:地域連携推進センター棟114室

設置年度:平成21年

 

 

 

 

【X線回折装置(XRD)】

周期的に規則配列した原子により散乱されたX線が特定の方向で干渉し、強めあう条件のとき回折を観察し、結晶構造、格子の大きを特定し、化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行う装置

 

XRD名称:RINT-2200

設置場所:地域連携推進センター棟113室

設置年度:平成17年

 

 

【誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)】

プラズマによってイオン化された原子を質量分析計に導入することで、元素の同定・定量を行う方法

 

ICP-MS名称:SPQ9400

設置場所:地域連携推進センター棟113室

設置年度:平成17年

 

【熱間加工再現試験装置】

熱加工再現装置名称:THERMECMASTOR_Z

設置場所:地域連携推進センター棟111室

設置年度:平成7年

 

 

【圧縮成型機】

圧縮形成型機名称:UH-F500kNA

設置場所:地域連携推進センター棟111室

設置年度:平成7年