利用手順/料金

◆利用手順

1)担当者に連絡(講習会日程の調整)

2)各装置毎に講習会を受講

3)利用登録申請書を提出

4)装置予約

5)利用

 

◆料金

装置名称 使用単位 料金
学内 学外
X線光電子分光装置(PHI 5600CIM) 1時間 ¥900 ¥15,000
X線光電子分光装置(PHI 5000VersaProbe) 1時間 ¥900  ¥15,000
飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS) 準備・解析 1時間 ¥900  ¥10,000
イオン銃利用 1時間 ¥2,100 ¥15,000
X線回折装置(XRD) 1時間 ¥400 ¥1,000
 熱間加工再現試験装置  1時間  ¥500  ―

注:料金は2019年4月から適用開始